X射线荧光光谱法测定氯、溴、硫
用X射线荧光光谱仪进行测量。对于氯和硫采用经验系数法校正元素间的基体效应,对于溴用铑靶康普顿散射作内标,校正元素间的基体效应。 4 试剂及材料 除非另有说明,在分析中仅使用确认为优级纯的试剂。
X射线荧光光谱法:通过照射样品,使样品发射出X射线,并根据X射线的能量来确定样品的元素种类和含量。 扫描电子显微镜(SEM)和能谱分析(EDS):通过SEM观察样品的表面形貌,通过EDS分析样品的元素成分。
氯元素和磷元素分析方法常用的有X射线荧光光谱法(XRF)、电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)、能量色散X射线光谱法(EDS)等。
X射线荧光分析的基本介绍
1、荧光X射线是指当物质受到入射X射线的激发后,发射出的能量较低的X射线。
2、X射线荧光光谱分析仪的主要部件为:激发源、探测器、高压电源、前置放大器、主放大器、模数转换器。获得X射线荧光光谱的方法 X射线荧光光谱法,即X射线发射光谱法,是一种非破坏性的仪器分析方法。
3、透射电子:若样品很薄,部分电子穿过试样成为透射电子。因此,对于薄样,可以利用特征能量损失配合电子能量分析器进行微区成分分析。
4、“X射线荧光”,是指受X射线(“照射光”)照射激发之后发出的“次级X射线”——它与“照射光”的波长和能量都不同。
5、X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。
6、对于X射线荧光有一个通俗易懂的解释:我们知道所有的物质都是由原子构成的。
X射线荧光光谱法
1、X射线荧光光谱法,即X射线发射光谱法,是一种非破坏性的仪器分析方法。
2、用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂,将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片,按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值,换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%~80%的试样。
3、XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。
X射线荧光光谱法的介绍
X射线荧光光谱法,即X射线发射光谱法,是一种非破坏性的仪器分析方法。
本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。
XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)。人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。
根据荧光能量的强度来判断原子的含量有多少。X射线荧光光谱仪就是利用这个原理进行对物品所含原子的测量。而现有的X射线荧光光谱仪包括能量色散型X射线荧光光谱仪(EDX)、波长色散型X射线荧光光谱仪(WDX)。
X射线荧光光谱法(XRF):XRF是一种非破坏性分析方法,利用X射线激发样品中的元素,产生特征荧光,通过分析荧光来确定金属的种类和含量。
)透射电子:透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。5)特征X射线: 用特征值进行成分分析,来自样品较深的区域 6)俄歇电子:各元素的俄歇电子能量值很低;来自样品表面1—2nm范围。